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Eine einwandfreie Oberfläche, Farbe und Struktur ist bei den sichtbaren Flächen ebenso von besonderer Bedeutung, wie bei Funktionsflächen wie z.B. von Wellen oder Gehäuseteilen.
pi4 bietet eine umfangreiche Palette von optischen Prüfsystemen, die sowohl die Farbe, Muster und Struktur als auch die Tiefe von Kratzern oder Lunkern exakt bis zu Auflösungen von 1 µm erfassen können.

Durch den Einsatz von Endoskopen können auch schwer zugängliche Bereich geprüft werden.

In Bild 1 sehen Sie ein Applikation bei der die Einbaureihenfolge von Kabeln überprüft wird.
In Bild 2 sehen Sie die Oberflächenkontrolle eines Aussenlamellenträgers, der auf Kratzer, Lunker oder andere Oberflächenbeschädigungen geprüft wird.

Produktmerkmale